电子材料&设备集成供应商

           半导体技术服务、工程图纸设计

 

 

I/V测试

主要用途:

验证及量测半导体电子组件之电性参数及特性,比如电压-电流、电容-电压特性曲线。

应用范围:1.

极低的漏电流测量(例如 二极管,三极管)2.CMOS,双极性组件, IC 的半导体参数测量;3./短路试验。


2016年5月14日 13:04